微型低溫箱低溫測(cè)試箱技術(shù)參數(shù)：

1、試驗(yàn)箱尺寸：按用戶(hù)要求制定或者選擇6款標(biāo)準(zhǔn)尺寸這一（寬40x高50x深40cm；寬50x高60x深50cm；寬50x高75x深60cm；寬60x高85x深80cm；寬100x高100x深80cm；寬100x高100x深100cm）

2、制冷方式：?jiǎn)渭?jí)制冷、或復(fù)疊式制冷

3、冷卻方式：風(fēng)冷

4、蒸發(fā)器：翅片式換熱器

5、冷凝器：風(fēng)冷式冷凝器

6、冷媒：環(huán)保型R404、R 2 3、R 1 4

微型低溫箱低溫測(cè)試箱保護(hù)系統(tǒng)：

1、漏電保護(hù) 5、壓縮機(jī)超壓保護(hù) 9、 風(fēng)機(jī)過(guò)熱保護(hù)

2、超溫保護(hù)Ⅰ 6、壓縮機(jī)過(guò)流保護(hù) 10、相序保護(hù)

3、超溫保護(hù)Ⅱ 7、壓縮機(jī)過(guò)熱保護(hù) 11、設(shè)備過(guò)載保護(hù)

4、電子超溫保護(hù) 8、缺水保護(hù) 12、接地保護(hù)

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備